РАДИОЭЛЕКТРОНИКА

Микроконтроллерный тестер логики интегральных схем серии 74xx: разработка и применение

1Али Али Сабер Мохаммед, 2Пштиван Шакор, 3Салам Халаф Абдулла, 4Марван Азиз Мохаммед, 5Саад Джаббар Аббас, 6Хайдер Махмуд Салман, 7Мохаммед Абдулкрим Мохаммед, 8Калматов Р.К.
1Университет Аль-Китаб, https://www.uoalkitab.edu.iq/eng/
Киркук 36015, Ирак
2Университетский колледж Аль-Калама, https://alqalam.edu.iq/en/
Киркук 36001, Ирак
3Университетский колледж Аль-Нухбы, https://alnukhba.edu.iq/
Багдад 10013, Ирак
4Университет знаний, Инженерный колледж, https://knu.edu.iq/
Эрбиль 44001, Ирак
5Университетский колледж Аль-Рафидаин, https://en.ruc.edu.iq/
Багдад 10064, Ирак
6Университетский колледж Аль-Турат, https://alturathuniversity.com/
Багдад 10013, Ирак
7Университетский колледж Аль-Нур, https://alnoor.edu.iq/en/
Ниневия 41012, Ирак
8Ошский государственный университет, https://oshsu.edu.kg/
Ош 723500, Кыргызстан

E-mail: ali.a.saber@uoalkitab.edu.iq, pshtiwan.shakor@alqalam.edu.iq, s.abdullah@alnukhba.edu.iq, marwan.aziz@knu.edu.iq, saad.jabbar@ruc.edu.iq, haider.mahmood@turath.edu.iq, mohammed.abdulkreem@alnoor.edu.iq, rkalmatov@oshsu.kg

Поступила 27.01.2024, рецензирована 02.02.2024, принята 09.02.2024, опубликована 06.09.2024.

Аннотация: Разработан логический тестер на базе микроконтроллера, специально адаптированный для большинства интегральных схем (ИС) логических элементов серии 74xx и использующий ATmega328. Воспроизведены атрибуты логического элемента ИС с использованием таблицы истинности, что позволяет определить состояние элементов ИС. Исследовано несколько методов проектирования, выбран единый подход к реализации. Модули разрабатывались независимо. После обширных испытаний и успешного моделирования эти компоненты были объединены для завершения проекта. Разработанный тестер микросхем является экономичным и удобным в использовании; он быстро исследует микросхемы и представляет результаты для оценки их функционирования. Тестер сравнивает выходные данные каждого вентиля с таблицей истинности. Результаты как для рабочих, так и для неисправных микросхем отображаются на ЖК-дисплее. Результатом проекта является создание цифрового тестера микросхем, который упрощает процесс проверки микросхем и функционирует как надежный инструмент в промышленных условиях.
Ключевые слова: интегральная схема, цифровая ИС, тестовая ИС, цифровой тест, Arduino Nano, ИС разъема

УДК 53.087.92, 621.3. 049.77

РЭНСИТ, 2024, 16(5):573-588 DOI: 10.17725/rensit.2024.16.573

Полнотекстовая электронная версия статьи – на вебсайтах http://elibrary.ru и http://rensit.ru/vypuski/article/594/16(5)573-588.pdf